晶體諧振頻率和諧振電阻都隨時間的延續(xù)而變化，這就是所說的老化，人們最關(guān)注的是諧振頻率隨時間的變化。

　　對AT切晶體來說，在晶體使用初期，老化主要受元件內(nèi)部應(yīng)力釋放影響，頻率向升高方向變化，而后期受電極膜吸附的影響，，其頻率按對數(shù)關(guān)系向降低方向變化，隨時間增加變化量逐漸降低，見圖4。為減小出廠時的老化率，生產(chǎn)商大都對產(chǎn)品進(jìn)行了預(yù)老化。

　　對老化指標(biāo)，一般都規(guī)定產(chǎn)品的老化水平,而它并非明確的試驗條件,這種“水平”，是通過生產(chǎn)有計劃的抽檢而獲得的。可能某些個別晶體元件比規(guī)定水平會差，這是允許的。

　　目前電阻焊密封的石英晶體元件的老化率水平可以控制±5×10-6以下，對于普通精度產(chǎn)品（頻差大于±30×10-6）的應(yīng)用來說，老化指標(biāo)對元件工作影響并不是很重要，對于小公差（±0×10-6）以下）的晶體元器件來說老化是需要關(guān)注的指標(biāo)。